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泰思肯VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡，采用全新的 Essence™ 電鏡操控軟件系統(tǒng)，將掃描形貌圖像與元素實(shí)時分析集成于同一個掃描窗口中。這種組合大大簡化了樣品表面形貌的采集及含元素的數(shù)據(jù)分析工作，使得第四代 VEGA SEM 成為質(zhì)量控制、故障分析和研究實(shí)驗(yàn)室中常規(guī)材料等檢測提供更高效的分析的解決方案。

泰思肯MIRA通用分析型高分辨場發(fā)射掃描電鏡 TESCAN MIRA 推出的第四代高性能掃描電子顯微鏡，配置有高亮度肖特基場發(fā)射電子槍，在TESCAN 的 Essence™ 操作軟件的同一個窗口中實(shí)現(xiàn)了 SEM 成像和實(shí)時元素分析。這種結(jié)合大大簡化了從樣品中獲取形貌和元素數(shù)據(jù)的過程，從而使得MIRA 成為質(zhì)量控制、失效分析和實(shí)驗(yàn)室常規(guī)材料檢測的有效分析解決方案。

MAGNA新一代超高分辨場發(fā)射掃描電鏡

泰思肯 新一代超高分辨場發(fā)射掃描電鏡 全新設(shè)計(jì)的CLARA超高分辨場發(fā)射掃描電鏡可以提供的圖像質(zhì)量，具有強(qiáng)大的擴(kuò)展分析能力，能夠滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和科研的所有需求，不僅適用于的納米分析應(yīng)用，也給操作者帶來舒適、高效的使用體驗(yàn)。